Interfacial cracking in thin film structures

  1. Martínez-Esnaola, J.M.
  2. Sánchez, J.M.
  3. Elizalde, M.R.
  4. Martín-Meizoso, A.
Collection de livres:
European Structural Integrity Society

ISSN: 1566-1369

Année de publication: 2000

Volumen: 26

Número: C

Pages: 47-71

Type: Article

DOI: 10.1016/S1566-1369(00)80042-4 GOOGLE SCHOLAR
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