X-ray asterism and the structure of cracks from indentations in silicon

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Revista:
Journal of Applied Crystallography

ISSN: 1600-5767 0021-8898

Año de publicación: 2016

Volumen: 49

Páginas: 250-259

Tipo: Artículo

DOI: 10.1107/S1600576715024620 GOOGLE SCHOLAR