Aging of Current DACs and its Impact in Equalizer Circuits

  1. Dhar, T.
  2. Poojary, J.
  3. Harjani, R.
  4. Sapatnekar, S.S.
Konferenzberichte:
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings

ISSN: 1541-7026

ISBN: 9781728168937

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 2021-March

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/IRPS46558.2021.9405160 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus