Reliability Analysis of a Delay-Locked Loop under HCI and BTI Degradation

  1. Dhar, T.
  2. Sapatnekar, S.S.
Actas:
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings

ISSN: 1541-7026

ISBN: 9781538695043

Año de publicación: 2019

Volumen: 2019-March

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/IRPS.2019.8720447 GOOGLE SCHOLAR

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