Invited - Optimizing device reliability effects at the intersection of physics, circuits, and architecture

  1. Sengupta, D.
  2. Mishra, V.
  3. Sapatnekar, S.S.
Actas:
Proceedings - Design Automation Conference

ISSN: 0738-100X

ISBN: 9781450342360

Año de publicación: 2016

Volumen: 05-09-June-2016

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1145/2897937.2905016 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Fuente de los datos: Scopus