Leakage modeling for devices with steep sub-threshold slope considering random threshold variations

  1. Paul, A.
  2. Kshirsagar, C.
  3. Sapatnekar, S.S.
  4. Koester, S.
  5. Kim, C.H.
Actas:
Proceedings of the IEEE International Conference on VLSI Design

ISSN: 1063-9667

ISBN: 9781479925124

Año de publicación: 2014

Páginas: 399-404

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/VLSID.2014.75 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

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