Compact current source models for timing analysis under temperature and body bias variations

  1. Gupta, S.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Año de publicación: 2012

Volumen: 20

Número: 11

Páginas: 2104-2117

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2011.2169686 GOOGLE SCHOLAR
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