Adaptive techniques for overcoming performance degradation due to aging in CMOS circuits

  1. Kumar, S.V.
  2. Kim, C.H.
  3. Sapatnekar, S.S.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Datum der Publikation: 2011

Ausgabe: 19

Nummer: 4

Seiten: 603-614

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TVLSI.2009.2036628 GOOGLE SCHOLAR
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