Scalable methods for the analysis and optimization of gate oxide breakdown
- Fang, J.
- Sapatnekar, S.S.
Actas:
Proceedings of the 11th International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED 2010
ISBN: 9781424464555
Año de publicación: 2010
Páginas: 638-645
Tipo: Aportación congreso