Stack sizing for optimal current drivability in subthreshold circuits

  1. Keane, J.
  2. Eom, H.
  3. Kim, T.-H.
  4. Sapatnekar, S.
  5. Kim, C.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Argitalpen urtea: 2008

Alea: 16

Zenbakia: 5

Orrialdeak: 598-602

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TVLSI.2008.917571 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus