DAC highlights

  1. Sapatnekar, S.
  2. Stok, L.
Revue:
IEEE Design and Test of Computers

ISSN: 0740-7475

Année de publication: 2007

Volumen: 24

Número: 5

Pages: 502-504

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/MDT.2007.160 GOOGLE SCHOLAR