Advances in microscale residual stress measurement using focused ion beam milling and digital image correlation
- A. Dorronsoro 12
- J.R. Páez 12
- J. Navarrete 12
- J.M. Sánchez 12
- J.M. Martínez-Esnaola 12
- J. Alkorta 12
- 1 CEIT-BRTA, Donostia
-
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Universidad de Navarra
info
ISSN: 2792-4246
Year of publication: 2023
Issue: 5
Pages: 237-242
Type: Article
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Sustainable development goals
Abstract
La presencia de tensiones residuales puede tener una gran influencia en el comportamiento de los materiales, especialmente en condiciones de fatiga. En este artículo, presentamos una técnica de medida de tensiones residuales, con resolución espacial por debajo de 100 micras. La técnica consiste en mecanizar una hendidura en la superficie de la muestra con un haz de iones focalizado (FIB), y en medir los desplazamientos generados por la relajación de tensiones alrededor de la rendija. Para ello, se utiliza un algoritmo de correlación digital de imágenes (DIC) capaz de medir desplazamientos por debajo del pixel, y se comparan con los calculados en simulaciones de elementos finitos. Las primeras medidas utilizando esta técnica se hicieron en una muestra de metal duro con tensiones residuales compresivas de gran magnitud, generadas durante un proceso de rectificado. En este trabajo, se han caracterizado las tensiones residuales presentes en una muestra de acero, deformada plásticamente en un ensayo de flexión a cuatro puntos. Las tensiones son un orden de magnitud menores que en el anterior estudio. Las medidas realizadas con esta técnica se han comparado satisfactoriamente con valores obtenidos mediante la técnica sin2 ?? basada en difracción de rayos X.