Full-chip analysis of leakage power under process variations, including spatial correlations

  1. Chang, H
  2. Sapatnekar, SS
Col·lecció de llibres:
42ND DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, PROCEEDINGS 2005

ISSN: 0738-100X

ISBN: 1-59593-058-2

Any de publicació: 2005

Pàgines: 523-528

Congrés: 42nd Design Automation Conference

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/DAC.2005.193865 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS