Layer-resolved vector magnetometry using generalized magneto-optical ellipsometry

  1. Martín Valderrama, C.
  2. Prieto, I.
  3. Quintana, M.
  4. Martínez-De-Guerenu, A.
  5. Berger, A.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Ano de publicación: 2024

Volume: 125

Número: 2

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/5.0209113 GOOGLE SCHOLAR