A new methodology for the on-wafer characterization of RF integrated transformers

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

ISSN: 0018-9480

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 55

Nummer: 5

Seiten: 1046-1053

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TMTT.2007.895648 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

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