A system for automatic artifact removal in ictal scalp EEG based on independent component analysis and Bayesian classification
- LeVan, P.
- Urrestarazu, E.
- Gotman, J.
ISSN: 1388-2457
Any de publicació: 2006
Volum: 117
Número: 4
Pàgines: 912-927
Tipus: Article