Analytical Modeling of Transient Electromigration Stress based on Boundary Reflections

  1. Al Shohel, M.A.
  2. Chhabria, V.A.
  3. Evmorfopoulos, N.
  4. Sapatnekar, S.S.
Actas:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers, ICCAD

ISSN: 1092-3152

ISBN: 9781665445078

Año de publicación: 2021

Volumen: 2021-November

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ICCAD51958.2021.9643570 GOOGLE SCHOLAR
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