Impact of Self-heating on Performance and Reliability in FinFET and GAAFET Designs

  1. Chhabria, V.A.
  2. Sapatnekar, S.S.
Actes:
Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED

ISSN: 1948-3295 1948-3287

ISBN: 9781728103921

Any de publicació: 2019

Volum: 2019-March

Pàgines: 235-240

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ISQED.2019.8697786 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible