Stress-aware performance evaluation of 3D-stacked wide I/O DRAMs

  1. Li, T.
  2. Sapatnekar, S.S.
Actes:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers, ICCAD

ISSN: 1092-3152

ISBN: 9781538630938

Any de publicació: 2017

Volum: 2017-November

Pàgines: 645-650

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ICCAD.2017.8203838 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus