Stress-aware performance evaluation of 3D-stacked wide I/O DRAMs
- Li, T.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 1092-3152
ISBN: 9781538630938
Année de publication: 2017
Volumen: 2017-November
Pages: 645-650
Type: Communication dans un congrès
Actes de conférence:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers, ICCAD