Cell-Internal Electromigration: Analysis and Pin Placement Based Optimization

  1. Posser, G.
  2. Mishra, V.
  3. Jain, P.
  4. Reis, R.
  5. Sapatnekar, S.S.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 35

Nummer: 2

Seiten: 220-231

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TCAD.2015.2456427 GOOGLE SCHOLAR

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