Improving STT-MRAM density through multibit error correction
- Del Bel, B.
- Kim, J.
- Kim, C.H.
- Sapatnekar, S.S.
Konferenzberichte:
Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE
ISSN: 1530-1591
ISBN: 9783981537024
Datum der Publikation: 2014
Art: Konferenz-Beitrag