What happens when circuits grow old: Aging issues in CMOS design

  1. Sapatnekar, S.S.
Actas:
2013 International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test, VLSI-DAT 2013

ISBN: 9781467344357

Año de publicación: 2013

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/VLDI-DAT.2013.6533827 GOOGLE SCHOLAR
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