Stack sizing for optimal current drivability in subthreshold circuits

  1. Keane, J.
  2. Eom, H.
  3. Kim, T.-H.
  4. Sapatnekar, S.
  5. Kim, C.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Año de publicación: 2008

Volumen: 16

Número: 5

Páginas: 598-602

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2008.917571 GOOGLE SCHOLAR
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