A chip-level electrostatic discharge simulation strategy

  1. Qian, H.
  2. Kozhaya, J.N.
  3. Nassif, S.R.
  4. Sapatnekar, S.S.
Actes:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers, ICCAD

ISSN: 1092-3152

ISBN: 0780387023

Any de publicació: 2004

Pàgines: 315-318

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ICCAD.2004.1382593 GOOGLE SCHOLAR