A chip-level electrostatic discharge simulation strategy

  1. Qian, H.
  2. Kozhaya, J.N.
  3. Nassif, S.R.
  4. Sapatnekar, S.S.
Konferenzberichte:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers, ICCAD

ISSN: 1092-3152

ISBN: 0780387023

Datum der Publikation: 2004

Seiten: 315-318

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/ICCAD.2004.1382593 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus