Analysis of Pattern-dependent Rapid Thermal Annealing Effects on SRAM Design

  1. Chhabria, V.A.
  2. Sapatnekar, S.S.
Actes:
Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED

ISSN: 1948-3295,  1948-3287

ISBN: 9798350334753

Any de publicació: 2023

Volum: 2023-April

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ISQED57927.2023.10129399 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus