Understanding Distance-Dependent Variations for Analog Circuits in a FinFET Technology

  1. Madhusudan, M.
  2. Poojary, J.
  3. Sharma, A.K.
  4. Ramprasath, S.
  5. Kunal, K.
  6. Sapatnekar, S.S.
  7. Harjani, R.
Actas:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9798350304237

Año de publicación: 2023

ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference

Volumen: 2023-September

Páginas: 69-72

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC59256.2023.10268572 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus