Stress-Aware Performance Evaluation of 3D-Stacked Wide I/O DRAMs

  1. Li, Tengtao
  2. Sapatnekar, Sachin S.
Colección de libros:
2017 IEEE/ACM INTERNATIONAL CONFERENCE ON COMPUTER-AIDED DESIGN (ICCAD)

ISSN: 1933-7760

ISBN: 978-1-5386-3093-8

Año de publicación: 2017

Páginas: 645-650

Congreso: IEEE/ACM 36th International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS