Sealable Methods for the Analysis and Optimization of Gate Oxide Breakdown

  1. Fang, Jianxin
  2. Sapatnekar, Sachin S.
Colección de libros:
PROCEEDINGS OF THE ELEVENTH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON QUALITY ELECTRONIC DESIGN (ISQED 2010)

ISSN: 1948-3287

ISBN: 978-1-4244-6455-5

Año de publicación: 2010

Páginas: 638-645

Congreso: 11th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS