Full-chip analysis of leakage power under process variations, including spatial correlations

  1. Chang, H
  2. Sapatnekar, SS
Colección de libros:
42ND DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, PROCEEDINGS 2005

ISSN: 0738-100X

ISBN: 1-59593-058-2

Año de publicación: 2005

Páginas: 523-528

Congreso: 42nd Design Automation Conference

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/DAC.2005.193865 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS