A new methodology for the on-wafer characterization of RF integrated transformers
- Cendoya, I.
- De Nó, J.
- Sedano, B.
- García-Alonso, A.
- Valderas, D.
- Gutiérrez, I.
ISSN: 0018-9480
Año de publicación: 2007
Volumen: 55
Número: 5
Páginas: 1046-1053
Tipo: Artículo