A new methodology for the on-wafer characterization of RF integrated transformers

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Revista:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

ISSN: 0018-9480

Año de publicación: 2007

Volumen: 55

Número: 5

Páginas: 1046-1053

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TMTT.2007.895648 GOOGLE SCHOLAR
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