Identification of the degradation state for condition-based maintenance of insulated gate bipolar transistors: A self-organizing map approach

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2016

Volumen: 60

Páginas: 48-61

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2016.02.015 GOOGLE SCHOLAR

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