Quantitative imaging of the stress/strain fields and generation of macroscopic cracks from indents in silicon

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Zeitschrift:
Crystals

ISSN: 2073-4352

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 7

Nummer: 11

Art: Artikel

DOI: 10.3390/CRYST7110347 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor