Quantitative imaging of the stress/strain fields and generation of macroscopic cracks from indents in silicon
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- Allen, D.
- Wittge, J.
- Danilewsky, A.N.
- Garagorri, J.
- Gorostegui-Colinas, E.
- Elizalde, M.R.
- McNally, P.J.
Revista:
Crystals
ISSN: 2073-4352
Ano de publicación: 2017
Volume: 7
Número: 11
Tipo: Artigo
