Characterization of interconnect interfacial adhesion by cross-sectional nanoindentation
- Scherban, T.
- Pantuso, D.
- Sun, B.
- El-Mansy, S.
- Xu, J.
- Elizalde, M.R.
- Sánchez, J.M.
- Martínez-Esnaola, J.M.
ISSN: 0376-9429
Año de publicación: 2003
Volumen: 120
Número: 1-2
Páginas: 421-429
Tipo: Artículo