Impact of Self-heating on Performance and Reliability in FinFET and GAAFET Designs

  1. Chhabria, V.A.
  2. Sapatnekar, S.S.
Actas:
Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED

ISSN: 1948-3295,  1948-3287

ISBN: 9781728103921

Año de publicación: 2019

Volumen: 2019-March

Páginas: 235-240

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ISQED.2019.8697786 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Fuente de los datos: Scopus