Stress-aware performance evaluation of 3D-stacked wide I/O DRAMs
- Li, T.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 1092-3152
ISBN: 9781538630938
Año de publicación: 2017
Volumen: 2017-November
Páginas: 645-650
Tipo: Aportación congreso
Actas:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers, ICCAD