Cell-Internal Electromigration: Analysis and Pin Placement Based Optimization

  1. Posser, G.
  2. Mishra, V.
  3. Jain, P.
  4. Reis, R.
  5. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Año de publicación: 2016

Volumen: 35

Número: 2

Páginas: 220-231

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TCAD.2015.2456427 GOOGLE SCHOLAR
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