Stochastic and topologically aware electromigration analysis for clock skew
- Jain, P.
- Sapatnekar, S.S.
- Cortadella, J.
ISSN: 1541-7026
ISBN: 9781467373623
Año de publicación: 2015
Volumen: 2015-May
Páginas: 3D41-3D46
Tipo: Aportación congreso
Actas:
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings