Incorporating hot-carrier injection effects into timing analysis for large circuits

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Ano de publicación: 2014

Volume: 22

Número: 12

Páxinas: 2738-2751

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TVLSI.2013.2296499 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus