Accounting for inherent circuit resilience and process variations in analyzing gate oxide reliability
- Fang, J.
- Sapatnekar, S.S.
Actes:
Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC
ISBN: 9781424475155
Any de publicació: 2011
Pàgines: 689-694
Tipus: Aportació congrés