A framework for scalable postsilicon statistical delay prediction under process variations

  1. Liu, Q.
  2. Sapatnekar, S.S.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 28

Nummer: 8

Seiten: 1201-1212

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TCAD.2009.2021732 GOOGLE SCHOLAR
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