Width-dependent statistical leakage modeling for random dopant induced threshold voltage shift

  1. Gu, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
  3. Kim, C.
Actes:
Proceedings - Design Automation Conference

ISSN: 0738-100X

ISBN: 9781595936271

Any de publicació: 2007

Pàgines: 87-92

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/DAC.2007.375130 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus