Impact of NBTI on SRAM read stability and design for reliability

  1. Kumar, S.V.
  2. Kim, C.H.
  3. Sapatnekar, S.S.
Konferenzberichte:
Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED

ISSN: 1948-3287,  1948-3295

ISBN: 9780769525235

Datum der Publikation: 2006

Seiten: 210-218

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/ISQED.2006.73 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

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