Impact of NBTI on SRAM read stability and design for reliability

  1. Kumar, S.V.
  2. Kim, C.H.
  3. Sapatnekar, S.S.
Actas:
Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED

ISSN: 1948-3287,  1948-3295

ISBN: 9780769525235

Ano de publicación: 2006

Páxinas: 210-218

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/ISQED.2006.73 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus