An Ensemble of Component-Based and Population-Based Self-Organizing Maps for the Identification of the Degradation State of Insulated-Gate Bipolar Transistors

  1. Rigamonti, M.
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  6. Galarza, A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 0018-9529

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 67

Nummer: 3

Seiten: 1304-1313

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TR.2018.2834828 GOOGLE SCHOLAR

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