An Ensemble of Component-Based and Population-Based Self-Organizing Maps for the Identification of the Degradation State of Insulated-Gate Bipolar Transistors
- Rigamonti, M.
- Baraldi, P.
- Alessi, A.
- Zio, E.
- Astigarraga, D.
- Galarza, A.
ISSN: 0018-9529
Datum der Publikation: 2018
Ausgabe: 67
Nummer: 3
Seiten: 1304-1313
Art: Artikel