Tradeoffs between gate oxide leakage and delay for dual <i>T<sub>ox</sub></i> circuits

  1. Sultania, AK
  2. Sylvester, D
  3. Sapatnekar, SS
Col·lecció de llibres:
41ST DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, PROCEEDINGS 2004

ISSN: 0738-100X

ISBN: 1-58113-828-8

Any de publicació: 2004

Pàgines: 761-766

Congrés: 41st Design Automation Conference

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1145/996566.996773 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Fuente de los datos: WoS