Quantitative imaging of the stress/strain fields and generation of macroscopic cracks from indents in silicon
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- Danilewsky, A.N.
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- Gorostegui-Colinas, E.
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- McNally, P.J.
Revista:
Crystals
ISSN: 2073-4352
Año de publicación: 2017
Volumen: 7
Número: 11
Tipo: Artículo
