Observation of nano-indent induced strain fields and dislocation generation in silicon wafers using micro-Raman spectroscopy and white beam X-ray topography
- Allen, D.
- Wittge, J.
- Zlotos, A.
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- Garagorri, J.
- McNally, P.J.
- Danilewsky, A.N.
- Elizalde, M.R.
ISSN: 0168-583X
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 268
Nummer: 3-4
Seiten: 383-387
Art: Artikel